Funzionalità VNA (Vector Network Analyzer) + Time Domain Reflectometer (TDR).

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità fornisce informazioni di caratterizzazione senza pari nei domini della frequenza e del tempo con un'unica acquisizione.

  • Misura i parametri S (come un VNA)
  • Misura il profilo di impedenza (come un TDR)
  • De-embedding avanzato secondo lo standard IEEE 370-2020
  • Emulazione e simulazione di canali dati seriali ad alta velocità
  • Nessuna calibrazione richiesta
  • Costa una frazione del prezzo di un VNA
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WavePulser 40iX analizzatore di interconnessione ad alta velocità che esegue misurazioni dei parametri s dell'analizzatore di rete vettoriale (VNA), come misurazioni della perdita di ritorno e della perdita di inserzione, su una scheda a circuiti stampati

Approfondimento sulla caratterizzazione senza pari

Grafico rappresentativo dei parametri S in modalità mista e ritorno e perdita di inserzione

Misurazioni del parametro S

Ottieni una caratterizzazione completa del percorso del segnale in un'unica acquisizione:

  • Intervallo di frequenza da CC a 40 GHz
  • Parametri S single-ended e in modalità mista
  • Misura la perdita di ritorno, la perdita di inserzione
  • La calibrazione interna e automatica fa risparmiare tempo e fatica
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Grafico rappresentativo del profilo di impedenza generato utilizzando un riflettometro nel dominio del tempo (TDR) per misurare la trasmissione nel dominio del tempo (TDT)

Misure del profilo di impedenza

Individuare con precisione le menomazioni nel circuito:

  • Risoluzione spaziale del profilo di impedenza < 1 mm
  • Profili di impedenza differenziale e di modo comune
  • Capacità TDR e TDT
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Iconografia che descrive il WavePulser 40iX Funzionalità dell'analizzatore di interconnessione ad alta velocità per eseguire il de-embedding utilizzando i parametri S e misurare il jitter e i diagrammi a occhio

De-embedding (IEEE 370-2020), Simulazione, Emulazione

WavePulser 40iX il software fornisce una facile analisi e modellazione di interconnessioni e circuiti con il suo toolbox completo:

  • Supporto per 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open
  • Supporto per la de-embedding in situ (ISD) - 2x-Thru con gating
  • Diagramma a occhio con emulazione equalizzata e analisi avanzata del jitter
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Video

 
 
 
 
 
 
 
 

Prova sia nel dominio della frequenza che nel dominio del tempo

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità è lo strumento di misurazione unico ideale per i progettisti di hardware ad alta velocità e gli ingegneri di test, con tutte le caratteristiche e le capacità che mancano agli analizzatori di reti vettoriali (VNA) e ai riflettometri nel dominio del tempo (TDR). Effettua un'acquisizione, quindi misura sia nel dominio della frequenza che nel dominio del tempo.

Iconografia che descrive come il WavePulser 40iX può misurare sia nel dominio del tempo (profili di impedenza, come un riflettometro nel dominio del tempo) che nel dominio della frequenza (parametri S, come un analizzatore di rete vettoriale) ed eseguire il de-embedding per l'analisi del jitter e del diagramma a occhio

Progettato per l'analisi di interconnessione ad alta velocità

WavePulser 40iX convalida, esegue il debug e risolve i problemi di interconnettività in cavi dati seriali, canali, connettori, vie, backplane, circuiti stampati e pacchetti di chip e SoC. È semplice da configurare e utilizzare. Fornisce gli stessi risultati di un analizzatore di rete per una frazione del prezzo.

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Calibrazione interna automatica

WavePulser 40iX gli standard di calibrazione sono integrati, quindi la calibrazione è sempre automatizzata, semplice e veloce. Confronta con un analizzatore di rete vettoriale che richiede l'acquisto di ulteriori standard di calibrazione esterni e richiede la connessione manuale per la calibrazione. Anche l'approccio basato su TDR/TDT è indipendente dalla configurazione, rendendo la calibrazione meno frequente.

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Gamma completa da CC a 40 GHz

WavePulser 40iX fornisce la risposta al gradino del riflettometro nel dominio del tempo (TDR) e le risposte del livello fisico time-gate e/o emulato senza necessità di estrapolazione a DC e basse frequenze - ideale per l'analisi di interconnessione di dati seriali ad alta velocità.

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Misurazioni dei parametri S

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità misura i parametri S single-ended e mixed-mode da un'unica acquisizione. Modifica le impostazioni e ricalcola i risultati senza dover riacquisire nuovi dati.

Immagine dello schermo che mostra un'acquisizione singola con tutti i parametri s in modalità mista, ritorno e perdite di inserimento per tutte le porte

Misurazioni dei parametri S in modalità mista

Un'acquisizione mostra tutti i risultati della misurazione: ritorno in modalità mista e perdite di inserzione per tutte le porte; misure di modo differenziale e di modo comune; Risposta in frequenza CC. Un'interfaccia utente grafica tabellare semplifica la lettura dei risultati.

Configurazione dell'analisi di rete semplice e flessibile

Una semplice configurazione richiede di inserire solo le frequenze e il numero di porte per un'acquisizione single-ended. Scegli un tempo di prova ottimizzato per precisione o velocità o qualcosa di intermedio. Riconfigurare le porte nel software senza ricollegarsi al DUT. Riordina i parametri S nel file Touchstone.

Maggiore precisione con calibrazione interna

La calibrazione elettronica interna consente alle misurazioni di iniziare prima e di essere eseguite con maggiore sicurezza. Funzionalità come la passività, la reciprocità e l'applicazione della causalità garantiscono una maggiore precisione di misurazione dei parametri S.

Misure del profilo di impedenza

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità misura i profili di impedenza con una risoluzione spaziale < 1 mm.

Immagine dello schermo che mostra un profilo di impedenza (Z0 rispetto alla lunghezza elettrica) per un'interconnessione di dati seriali ad alta velocità

Viste multiple del profilo di impedenza

WavePulser 40iX supporta sia il profilo di impedenza in modalità differenziale che le misurazioni in modalità mista e può visualizzare più modalità contemporaneamente. Visualizza anche la risposta al gradino, la risposta al polso e il coefficiente di riflessione.

Individua con precisione le svalutazioni

Utilizzare i profili di impedenza per rilevare e individuare i problemi comuni nelle interconnessioni di dati seriali ad alta velocità: connettori serrati in modo errato; cavi danneggiati; raggi di curvatura del cavo errati; vie difettose sulle linee di trasmissione; altre irregolarità della linea di trasmissione.

Ottimizza l'efficienza

I profili di impedenza rilevano e individuano i problemi nell'impostazione della misurazione, non solo sul DUT, aiutandoti a lavorare in modo più efficiente. Comprendere quando è necessario ripetere la calibrazione e quando non lo è.

De-embedding, simulazione, emulazione e analisi del jitter

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità può essere acquistato in bundle con SI Studio (WavePulser-40iX-BUNDLE), uno strumento di analisi approfondita su misura per comprendere le caratteristiche di interconnessione dei dati seriali ad alta velocità. L'analisi del segnale NRZ è inclusa di serie con l'acquisto di WavePulser-40iX-BUNDLE. WAVEPULSER-SISTUDIO-UPG-PAM può essere acquistato per aggiungere la capacità di analisi del segnale PAM3 e PAM4 a SI Studio

Immagine dello schermo che mostra il time-gating, il peeling dell'impedenza e il de-embedding utilizzando i parametri S per l'analisi del jitter e del diagramma dell'occhio di un'interconnessione di dati seriali ad alta velocità

De-embedding avanzato secondo lo standard IEEE 370-2020

Elimina gli effetti di dispositivi di prova, cavi e connettori secondo lo standard IEEE 370-2020 e migliora la precisione delle misurazioni. Supporta i metodi 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open e il de-embedding in situ (ISD) tramite peeling di impedenza basato su TDR o estensione della porta. Utilizza i parametri S risultanti negli strumenti di analisi del diagramma a occhio e del jitter. (Alcune funzionalità sono opzionali).

Viste del diagramma Fast Eye

Importa o simula le forme d'onda e usa i parametri S per modellare le menomazioni. Visualizza rapidamente l'impatto delle menomazioni con un diagramma ad occhio di dati seriali intuitivo. Visualizza gli effetti del de-embedding e dell'equalizzazione sul diagramma dell'occhio. Supporta PLL, pre-enfasi, de-enfasi, CTLE, FFE e DFE.

Analisi avanzata del jitter

Misura il jitter totale (Tj), casuale (Rj) e deterministico (Dj). Deconvolve Dj in parti componenti. Visualizza il jitter in spettrale, istogramma, traccia del jitter, diagramma dell'occhio e altri grafici.

Il supporto completo dell'algoritmo IEEE 370-2020 aumenta la precisione delle misurazioni.

Rappresentazione del dispositivo di prova standard IEEE 370-2020 con 1x-riflessione in cortocircuito e 1x-riflessione aperta.

1x-Riflessione-Corta e 1x-Riflessione-Aperta

  • Ideale per tutti i test di assemblaggio dei cavi TDR
  • Metodi di correzione dell'impedenza facili da usare
  • Alta precisione con WavePulser 40iX Tecnologia TDR
De-embedding 2x-Thru secondo IEEE 370-2020 Standard 370-2020 per la caratterizzazione elettrica di circuiti stampati e interconnessioni correlate a frequenze fino a 50 GHz

2x-Thru

  • Crea una struttura senza la presenza del DUT
  • Parametri S divisi in due metà uguali – Sinistra e Destra – da utilizzare nel de-embedding
  • Funziona con file di parametri S importati o misurati.
2x-Thru con gating tramite un algoritmo di peeling a correzione di impedenza, coerente con le tecniche di de-embedding in situ (ISD)

2x-Thru con Gating (De-embedding in situ, o ISD)

  • Ideale per isolare i dispositivi di prova da tutti i cavi e connettori
  • Precisione migliorata grazie all'utilizzo di algoritmi di peeling con correzione dell'impedenza.
  • Alta precisione con WavePulser 40iX Tecnologia TDR

Documenti tecnici

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