Diagramma a occhio dei dati seriali ad alta velocità, jitter e analisi del rumore

Categoria selezionata
Analisi tecnologicaAnalisi tecnologica
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
StrumentiStrumenti
Analizzare i collegamentiAnalizzare i collegamenti
FiduciaFiducia
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RisorseRisorse
Diagramma a occhio dell'analisi dei dati seriali di SDA Expert, istogramma del jitter, spettro del jitter e scomposizione del jitter in jitter totale, jitter casuale e deterministico

Competenza semplificata sui dati seriali

Il software di analisi dati seriali SDA Expert è il primo pacchetto per l'analisi del diagramma a occhio e del jitter con competenze tecnologiche integrate. Semplifica la configurazione ed espande le capacità di debug con analisi tecnologiche personalizzate per PCI Express, USB, DisplayPort e altro ancora.

  • Analisi tecnologica personalizzata per PCI Express®,USB, Thunderbolt™, DisplayPort®e altro ancora
  • Il toolbox più completo per l'analisi dei dati seriali
  • Massima affidabilità per misurazioni complesse

Competenza semplificata sui dati seriali

Il primo software per la gestione di dati seriali con competenze integrate. Semplifica la configurazione ed espande le capacità di debug grazie a un nuovo framework tecnologico.

Software di analisi dei dati seriali SDA Expert che confronta due diagrammi a occhio da USB4 e USB4 misurazioni specifiche del jitter su un'interfaccia USB-Type-C

Analisi tecnologica personalizzata per PCI Express, USB, DisplayPort e altro ancora.

  • La competenza nella misurazione specifica della tecnologia è integrata
  • Passa senza problemi dalla conformità al debug
  • La selezione intuitiva della misurazione fa risparmiare tempo ed evita errori
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Analisi dati seriali SDA Expert Diagramma a occhio NRZ, istogramma del jitter, traccia del jitter, FFT del jitter e misurazioni del jitter casuale, deterministico e totale

Il toolbox più completo per l'analisi dei dati seriali

  • La suite di strumenti di quarta generazione copre tutte le esigenze relative ai segnali NRZ e PAM.
  • Integra tutto: jitter, rumore, diafonia, equalizzazione e risposta agli impulsi.
  • Esclusivo supporto multivista con modalità di riferimento e confronto
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Analisi dei dati seriali di SDA Expert confrontando il diagramma a quattro occhi e gli scenari di jitter con il de-embedding di un canale e l'utilizzo dell'equalizzatore CTLE, DFE e FFE

Massima affidabilità per misurazioni complesse

  • La configurazione con un solo pulsante consente di risparmiare tempo di configurazione ed evitare errori
  • La scelta della tecnologia semplifica l'impostazione di misurazioni complesse
  • Documenta rapidamente i risultati e salva i dati con il generatore di report integrato.
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Analisi tecnologica personalizzata per PCI Express, USB, DisplayPort e altro ancora.

Il framework tecnologico SDA Expert fornisce tutti gli strumenti necessari, specifici per ogni tecnologia, per un debug facile e veloce al di fuori dei test di conformità.

Software di analisi dei dati seriali SDA Expert che mostra un esempio di framework tecnologico per PCIe Gen6
Funzioni di debug e misurazione dedicate integrate di SDA Expert visualizzate per USB nel menu di selezione della tecnologia
SDA Expert ha integrato una selezione di punti di test per standard come USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe e DisplayPort per una facile analisi dei collegamenti
Il software di analisi dei dati seriali SDA Expert mostra il diagramma a occhio del segnale PCIe Gen6 insieme al parametro di misurazione specifico PCIe Gen6 e alla risposta al gradino

Quadro tecnologico

L'opzione tecnologica semplifica

Punti di prova

Misure

Accelera il debug con il framework tecnologico SDA Expert di Teledyne LeCroy. Ottieni tutte le analisi di debug di cui hai bisogno, solitamente disponibili solo nei pacchetti di conformità.

  • Progettazione basata sulla tecnologia da parte di esperti di tecnologia
  • Facile da configurare e pronto all'uso
  • Ottimizzato per il debug dei test di conformità esterni

È sufficiente selezionare la tecnologia da testare e verranno visualizzate le misurazioni specifiche di tale tecnologia, etichettate come descritto nel documento di standard tecnologico e conformi ai requisiti specifici dello standard.

  • Framework tecnologico predefinito con opzioni aggiuntive per semplificare la configurazione della misurazione.
  • Approfitta dell'esperienza integrata
  • Ottieni tutti gli strumenti necessari per la tua applicazione

Con SDA Expert, l'analisi dei dati seriali fornisce tutti gli strumenti necessari per misurare i punti di test definiti negli standard, anche se questi punti di test e/o il canale non sono fisicamente presenti.

  • Visualizzazione grafica dinamica della configurazione del canale e del punto di prova
  • I punti di test predefiniti semplificano la configurazione ed evitano errori
  • Incorporamento/de-embedding ed equalizzazione incorporati

Molti standard prevedono parametri di misurazione e requisiti di analisi specifici. Con SDA Expert Serial Data Analysis, li ottieni tutti in un unico strumento ottimizzato per il debug.

  • Rispettare le specifiche delle norme
  • Ottimizzato per il debug
  • La semplice selezione della misurazione consente di risparmiare tempo ed evitare errori

Quadro tecnologico per USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express, DisplayPort, Ethernet 50G/100G

Teledyne LeCroy ha integrato la sua esperienza pluridecennale con gli standard di settore nel software di analisi dati seriali SDA Expert. Porta le tue analisi a un livello superiore con il nuovo framework tecnologico.

Visualizzazione del software SDA Expert per l'analisi dei dati seriali USB3.2. parametro diagramma a occhio, jitter e diagramma a occhio misurati su un'interfaccia di tipo USB-C
Visualizzazione del software SDA Expert per l'analisi dei dati seriali USB4. parametro diagramma a occhio, jitter e diagramma a occhio misurati su un'interfaccia di tipo USB-C
Software SDA Expert per l'analisi dei dati seriali che mostra DisplayPort. parametro diagramma a occhio, jitter e diagramma a occhio misurati su un'interfaccia di tipo USB-C
Istogramma di transizione SDA Expert PCIe 6.0 inclusa la suddivisione del jitter come Rj, udjdd, utj, dj e tj
Diagramma a occhio PAM50 Ethernet 4G con grafico di interferenza intersimbolica (ISI)

USB3.2

USB4 & Thunderbolt

DisplayPort

PCI Express

Ethernet 50G / 100G

Le misurazioni specifiche della tecnologia USB-C, definite nelle specifiche di test di conformità DisplayPort CTS, sono accessibili con un semplice clic nel software SDA Expert.

  • Configurazione del punto di prova facilmente configurabile
  • Diagramma a occhio completo, jitter e altre misurazioni PHY USB-C
  • Analisi di equalizzazione semplice e potente
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Misurazioni specifiche della tecnologia USB-C definite nel USB4 e Thunderbolt Le specifiche per i test di conformità (CTS) sono accessibili con un semplice clic nel software SDA Expert.

  • Configurazione del punto di prova facilmente configurabile
  • Diagramma a occhio completo, jitter e altre misurazioni PHY USB-C
  • Analisi di equalizzazione semplice e potente
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Le misurazioni specifiche della tecnologia USB-C, definite nelle specifiche di test di conformità DisplayPort CTS, sono accessibili con un semplice clic nel software SDA Expert.

  • Configurazione del punto di prova facilmente configurabile
  • Diagramma a occhio completo, jitter e altre misurazioni PHY USB-C
  • Analisi di equalizzazione semplice e potente
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PCI Express 6.0 introduce metodologie di misurazione del jitter specifiche per PAM4, rendendo così SDA Expert il toolkit ideale per la caratterizzazione dei trasmettitori PCIe.

  • Suddividere la composizione della misurazione del jitter nelle 48 transizioni del modello di misurazione del jitter a 52 UI, nelle 12 transizioni del livello di tensione o in un singolo set aggregato di misurazioni del jitter.
  • Istogramma di transizione per ciascuna delle 48 transizioni nello schema di misurazione del jitter a 52 UI.
  • Ciascuno dei 52 risultati della tabella di misurazione è vincolato al rispettivo istogramma di transizione.
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Eseguire la caratterizzazione di base dei segnali Ethernet elettrici a 50G/100G.

  • Diagrammi e misurazioni degli occhi, come altezza e larghezza degli occhi
  • Misure di equalizzazione del trasmettitore (TxEQ)
  • Misurazioni del jitter con recupero dei dati di clock
  • Misurazioni del rapporto segnale-rumore e distorsione (SNDR) e del rapporto di disallineamento di livello (RLM).
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Il toolbox più completo per l'analisi dei dati seriali

Le opzioni di analisi dei dati seriali di SDA Expert forniscono tutti gli strumenti necessari per qualsiasi diagramma a occhio NRZ o PAM, jitter o misurazione del rumore di dati seriali ad alta velocità.

Diagramma a occhio SDA Expert NRZ, istogramma del jitter, traccia del jitter, FFT del jitter e jitter casuale e deterministico insieme ai parametri del diagramma a occhio
SDA Expert mostra un diagramma a occhio del segnale PAM4 e misura SNDR, RLM insieme ai parametri del jitter e del diagramma a occhio
Test di maschera SDA Expert
SDA Expert mostra il rumore come funzione di traccia, istogramma e nel dominio della frequenza e misura, estrapola e scompone il rumore verticale
De-embedding di dispositivi e cavi di test da TP1 a TP2 o emulazione del canale su TP3 utilizzando parametri S e SDA Expert
Esperto SDA che confronta quattro scenari con diagramma a occhio e jitter, incorporando e de-embedding un canale e utilizzando gli equalizzatori CTLE, DFE e FFE

NRZ

PAMn

Test della maschera e PLL

Rumore/diafonia

De-incorpora/equalizza

Multi View

Il software SDA Expert Serial Data offre le opzioni più complete per la decomposizione del jitter NRZ, i diagrammi a occhio e gli strumenti di analisi, insieme a strumenti avanzati per l'integrità del segnale per la simulazione di emulazione, de-embedding ed equalizzazione.

  • Il set di strumenti di quarta generazione copre le esigenze complete dei segnali NRZ
  • Integra tutto: jitter, rumore, diafonia, equalizzazione e risposta agli impulsi.
  • Decomposizione e analisi complete del jitter

Il software opzionale SDA Expert Serial Data Analysis offre diagrammi a occhio PAM3 e PAM4 completi, misurazioni di jitter e rumore per l'analisi di disturbi casuali, deterministici e periodici per ogni apertura dell'occhio dei segnali PAM multilivello.

  • Analisi SNDR e RLM più completa
  • Potenti strumenti di visualizzazione per identificare componenti di rumore e distorsione inattese
  • Capacità completa di jitter e di ripartizione del rumore

Il test di maschera è uno degli strumenti più semplici da usare per analizzare l'integrità del segnale NRZ. SDA Expert dispone di un ampio database integrato di maschere e relative impostazioni PLL, con la flessibilità di aggiungere definizioni personalizzate.

  • Oltre 100 standard predefiniti con maschere e impostazioni PLL
  • Facile miglioramento per maschere personalizzate o aggiunta di nuovi standard
  • Impostazioni PLL flessibili come frequenza, JTF o OJTF

Con il software SDA Expert Serial Data Analysis si ottiene una suite completa di strumenti per la misurazione del rumore verticale e l'analisi della diafonia, per un'analisi completa aggressore/vittima.

  • Traccia del rumore, istogramma e spettro, che forniscono informazioni sul rumore verticale
  • Modalità di confronto LaneScape per generare occhi di diafonia su più corsie
  • L'innovativo grafico del contorno oculare del crosstalk mostra gli effetti del rumore eccessivo

Con il software SDA Expert Serial Data Analysis, è possibile caratterizzare rapidamente l'intero percorso del segnale dal trasmettitore al ricevitore, acquisire forme d'onda ad alta fedeltà in un punto di test conveniente e quindi analizzare facilmente il segnale in qualsiasi punto di interesse.

  • Apparecchiature smontabili e cavi di prova
  • Emula le perdite di canale nel mondo reale
  • Emula l'equalizzazione del trasmettitore e del ricevitore
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Il software SDA Expert Serial Data Analysis, grazie alle sue molteplici visualizzazioni e all'analisi di riferimento, identifica rapidamente le differenze e accelera il debug.

  • Utilizzare la corsia di riferimento per i test multi-scenario
  • Misura più corsie contemporaneamente
  • Analisi multipunto e multiconfigurazione

Analizzare l'intero collegamento

Caratterizzate rapidamente l'intero percorso del segnale dal trasmettitore al ricevitore, acquisite forme d'onda ad alta fedeltà in un punto di test conveniente e analizzate facilmente il segnale in qualsiasi punto di interesse.

De-embedding di dispositivi e cavi di prova da TP1 a TP2 utilizzando WavePulser 40iX Parametri S e toolbox SDA Expert Serial Data Analysis.
Emulazione delle perdite di canale del mondo reale da TP2 a TP3 utilizzando WavePulser 40iX Parametri S e toolbox SDA Expert Serial Data Analysis.
Emulazione dell'equalizzazione del trasmettitore e del ricevitore sondando su TP1 ed emulando su TP3 utilizzando WavePulser 40iX Parametri S nel set di strumenti di analisi dei dati seriali SDA Expert
WavePulser 40iX analizzatore di interconnessione ad alta velocità che esegue misurazioni dei parametri s dell'analizzatore di rete vettoriale (VNA) su un canale dati seriale

De-incorporamento

Emula le perdite di canale

Emula l'equalizzazione

Misurare i parametri S

Per effettuare misurazioni accurate del jitter e del diagramma a occhio dei dati seriali ad alta velocità, è generalmente necessario disassemblare i dispositivi e i cavi di test. La versione SDAX-COMPLETE di SDA Expert Serial Data Analysis di Teledyne LeCroy integra questa funzionalità.

  • Misurare i modelli dei parametri S utilizzando WavePulser 40iXoppure importare da altre misurazioni o strumenti di simulazione
  • Gli strumenti avanzati di SDA Expert rimuovono in modo semplice e preciso gli effetti di dispositivi e cavi dalle forme d'onda acquisite dall'oscilloscopio.
  • Applica il toolkit completo SDA Expert Compete alle forme d'onda decodificate per un'analisi completa di occhio, jitter e rumore direttamente sui pin di uscita del dispositivo in prova.

I canali dati seriali ad alta velocità presentano perdite che devono essere prese in considerazione durante le misurazioni del diagramma a occhio e del jitter. La versione SDAX-COMPLETE di SDA Expert Serial Data Analysis di Teledyne LeCroy integra questa funzionalità.

  • I file dei parametri S del modello di canale possono essere facilmente importati dal file WavePulser 40iX o altrove in SDA Expert nell'oscilloscopio
  • Acquisisci forme d'onda in qualsiasi punto del percorso del segnale, quindi utilizzale VirtualProbe per incorporare in modo pulito gli effetti del canale
  • Sfrutta tutte le funzionalità di analisi di SDA Expert Complete per confrontare simultaneamente le misurazioni di occhio, jitter e rumore in più punti di test.

I trasmettitori di dati seriali ad alta velocità applicano enfasi o deenfasi ai pin di uscita per compensare le perdite di canale. I ricevitori di dati seriali ad alta velocità applicano l'equalizzazione per compensare la pre/deenfasi del trasmettitore. La versione SDAX-COMPLETE di SDA Expert Serial Data Analysis di Teledyne LeCroy include funzionalità integrate per emulare tutte le impostazioni di equalizzazione comuni sui trasmettitori e ricevitori di dati seriali, tra cui:

  • Enfasi/de-enfasi del trasmettitore
  • FFE del ricevitore
  • Ricevitore CTLE
  • Ricevitore DFE

WavePulser 40iX L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità offre una caratterizzazione senza precedenti dei canali dati seriali sia nel dominio della frequenza che in quello del tempo con una singola acquisizione.

  • Misura i parametri S (come un VNA)
  • Misura il profilo di impedenza (come un TDR)
  • De-embedding, simulazione, emulazione e time gating dei risultati
  • Nessuna calibrazione richiesta
  • Costa una frazione del prezzo di un VNA
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Massima affidabilità per misurazioni complesse

SDA Expert Serial Data Analysis offre la massima affidabilità, pur essendo ottimizzato per la massima semplicità e facilità d'uso.

Configura il software SDA Expert Serial Data Analysis con de-embedding ed equalizzazione utilizzando un solo pulsante invece di utilizzare una procedura guidata complessa
Funzioni di debug e misurazione dedicate integrate di SDA Expert che possono essere facilmente gestite dal menu di selezione della tecnologia
Il software SDA Expert Serial Data Analysis dispone di una funzione di reporting integrata per salvare impostazioni, dati grezzi e report per tutti i tipi di jitter e analisi dei dati seriali sui segnali NRZ e PAM con il semplice tocco di un pulsante
Interfaccia utente grafica semplificata del software SDA Expert Serial Data Analysis

Configurazione a un pulsante

La selezione della tecnologia semplifica

Generatore di report integrato

Interfaccia semplificata

Affidati all'esperienza del software SDA Expert Serial Data Analysis e utilizza la funzionalità a un solo pulsante invece di dover lottare con le procedure guidate.

  • Configurazione con un solo pulsante anziché procedure guidate complesse
  • Ottimizzato per risparmiare tempo di configurazione
  • Mostra le viste jitter e i diagrammi a occhio più rilevanti

Sfrutta la competenza degli esperti del software SDA Expert Serial Data Analysis e inizia la tua analisi con pochi clic.

  • La struttura delle tecnologie predefinite semplifica la configurazione
  • Approfitta dell'esperienza integrata
  • Ottieni tutti gli strumenti necessari per la tua applicazione

Con la funzione di reportistica del software SDA Expert Serial Data Analysis, puoi salvare i tuoi dati per analisi future e generare report completi con un semplice clic.

  • Salva dati, imposta e crea un report allo stesso tempo
  • I dati memorizzati sono stati analizzati successivamente nell'ambito o offline utilizzando MAUI Studio.
  • Crea un report contenente tutte le impostazioni rilevanti e uno screenshot esplicativo.

Tieni sotto controllo le impostazioni e risparmia tempo grazie all'interfaccia utente grafica (UI) ottimizzata e semplificata, con icone intuitive. Ottieni informazioni utili su impostazioni mancanti o errate tramite le informazioni di stato.

  • Le icone semplificano la ricerca della funzione necessaria
  • L'interfaccia utente grafica semplificata aiuta con l'ordine delle impostazioni
  • Le barre di stato forniscono informazioni sulle impostazioni mancanti o errate

Confronto tra diagramma a occhio dei dati seriali e analisi del jitter – Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert possiede funzionalità specifiche per determinate tecnologie, oltre ad essere intuitivo e facile da usare. A differenza dei software di analisi del diagramma a occhio e del jitter per dati seriali di Keysight e Tektronix, che richiedono l'acquisto di più opzioni per ottenere le stesse funzionalità di SDAX-COMPLETE.

NRZ
Diagramma dell'occhio e misurazione dell'occhio
Misura del jitter, traccia, istogramma, spettro
Risposta al polso ed equalizzatore Tx

PAMn
Diagramma dell'occhio e misurazione dell'occhio
Misura del jitter, traccia, istogramma
Risposta al polso, EQ Tx e SNDR

Rumore/diafonia
Misura del rumore, traccia, istogramma, spettro
Sovrapposizione del diagramma dell'occhio di diafonia

Incorporamento/De-incorporamento
Incorporamento/De-incorporamento
Equalizzazione

Visualizzare
Multi-visualizzazione
Vista di riferimento

della produttività
Interfaccia grafica utente
Generatore di report
Configurazione automatica del punto di prova

Soluzioni specifiche per la tecnologia
PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB e Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne Le Croy
SDAX-COMPLETO
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
Sono richieste più opzioni
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Tektronix
Sono richieste più opzioni
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(PAMPCIE6)
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Risorse

Documenti tecnici
Webinars
Nome documento tipo di documento  
Scheda Tecnica Esperto SDA

Datasheet

 Scarica PDF
Manuale di istruzioni del software SDA Expert Scarica PDF

Manuale

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Configurazione dell'operatore SSCTrack per la demodulazione del clock a spettro diffuso dei dati seriali

Questa nota applicativa descrive come configurare le impostazioni dell'operatore matematico SSCTrack per eseguire la demodulazione del clock a spettro diffuso delle forme d'onda dei dati seriali.

Nota sull'app

 Scarica PDF

Serie di webinar della Jitter University

Hai dubbi sul jitter? La spiegazione di qualcuno sul jitter ti ha fatto più domande che risposte? In tal caso, unisciti a Teledyne LeCroy per scoprire tutto sul jitter: cos'è, le diverse categorie, gli strumenti utilizzati, le misurazioni e le visualizzazioni, la deconvoluzione e l'estrapolazione e molto altro.

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Parte 1 - Introduzione al jitter

In questa sessione, forniamo definizioni e categorie di base del jitter, descriviamo i tipi di strumenti storicamente e attualmente utilizzati per misurare il jitter, e i punti di forza e di debolezza degli strumenti di misurazione del jitter.

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Parte 2 – Imparare a conoscere il jitter al limite

In questa sessione, illustriamo esempi di misurazione del jitter utilizzando acquisizioni composte da uno o due fronti. Vengono descritte diverse tecniche di misurazione con i relativi antecedenti storici. Si discute anche dell'impatto dello strumento sull'accuratezza della misurazione del jitter.

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Parte 3 – Uno sguardo a lungo termine sul jitter

In questa sessione, sfrutteremo l'uso di moderni oscilloscopi digitali per effettuare misurazioni del jitter in modo più rapido e preciso. Calcoleremo inoltre statistiche, visualizzeremo istogrammi su set di dati e osserveremo come il jitter varia nel tempo o in funzione della frequenza per comprendere meglio le patologie sottostanti.

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Parte 4 – Esempi pratici di debug e misurazione del jitter

In questa sessione, introduciamo l'analisi spettrale del jitter come strumento di debug e forniamo altri esempi pratici di utilizzo di strumenti di analisi statistica e nel dominio del tempo sull'oscilloscopio per individuare la causa principale dei problemi di jitter.

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Parte 5 – Fondamenti delle misurazioni del jitter dei dati seriali

In questa sessione, forniamo definizioni e categorie di base del jitter, descriviamo i tipi di strumenti storicamente e attualmente utilizzati per misurare il jitter, e i punti di forza e di debolezza degli strumenti di misurazione del jitter.

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Parte 6 – Separazione, estrapolazione e visualizzazione del jitter nei dati seriali

In questa sessione, descriviamo cos'è il jitter totale a un dato tasso di errore di bit (Tj@BER) e come viene derivato dalle misurazioni dell'errore di intervallo di tempo (TIE) utilizzando modelli di estrapolazione. Viene spiegata la separazione tra jitter casuale (Rj) e jitter deterministico (Dj), con un'ulteriore spiegazione della separazione di Dj in jitter dipendente dai dati (DDj), distorsione del ciclo di lavoro (DCD), interferenza intersimbolica (ISI), jitter non correlato limitato (BUj) e jitter periodico (Pj), con esempi forniti.

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Parte 7 – Corso avanzato sulle misurazioni del jitter dei dati seriali

In questa sessione, approfondiremo le diverse prospettive sul jitter, sia misurato che estrapolato, e spiegheremo le prospettive statistiche e variabili nel tempo del jitter nei margini dei collegamenti dati seriali, visualizzate tramite un diagramma a occhio.

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Come decodificare ed emulare collegamenti dati seriali utilizzando gli oscilloscopi

Unisciti a Teledyne LeCroy per scoprire le diverse tecniche di de-embedding e embedding/emulazione per oscilloscopi, applicabili a collegamenti dati seriali ad alta velocità, interconnessioni, canali e sonde per oscilloscopi. Analizzeremo i vari strumenti comunemente disponibili negli oscilloscopi ad alta larghezza di banda, come il de-embedding e l'emulazione, utilizzando file di misurazione dei parametri S o modelli di circuito.

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Come rimuovere gli elementi di interconnessione sia nel dominio della frequenza che in quello del tempo

Unisciti a Teledyne LeCroy per scoprire e dimostrare le migliori pratiche per la rimozione di dispositivi di test, cavi e sonde dalle misurazioni di integrità del segnale, inclusi i collegamenti dati seriali. Questo processo è di fondamentale importanza per garantire che le misurazioni di integrità del segnale del dispositivo in prova non siano contaminate dagli elementi di interconnessione.

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Integrità del segnale su dati seriali ad alta velocità, analisi del jitter, de-embedding della sonda

In questo webinar spiegheremo come eseguire il debug di dati seriali ad alta velocità, l'integrità del segnale, l'equalizzazione, le misurazioni del jitter, l'embedding e il de-embedding delle interconnessioni e delle sonde.

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Debug e analisi di dati seriali ad alta velocità

In questo seminario spiegheremo come eseguire il debug di dati seriali ad alta velocità, l'integrità del segnale, l'equalizzazione, le misurazioni del jitter, l'embedding e il de-embedding delle interconnessioni e delle sonde.

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Come accelerare e migliorare i test e il debug di trasmettitori/ricevitori di dati seriali a oltre 16 Gb/s

Questo webinar fornirà una panoramica di un tipico test di un trasmettitore dati seriale ad alta velocità utilizzando USB4 A titolo di esempio, sintetizzeremo un segnale dati seriale ad alta velocità, utilizzeremo un oscilloscopio in tempo reale per analizzare il segnale presso un ricevitore virtuale e confronteremo il segnale ricevuto virtualmente con un segnale reale. Esamineremo l'analisi del margine di integrità del segnale e le misurazioni del jitter, del diagramma a occhio, del contorno IsoBER e del crosstalk.

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Webinar sui principi fondamentali della caratterizzazione delle interconnessioni dati seriali ad alta velocità

Unisciti a Teledyne LeCroy per approfondire l'impatto delle interconnessioni seriali ad alta velocità sulla progettazione dei tuoi circuiti. Discuteremo i parametri S e i profili di impedenza e come interpretarli, per poi utilizzare i file dei parametri S per effettuare misurazioni del diagramma a occhio e del jitter su un segnale differenziale che attraversa un canale di campionamento.

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